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BMH-J3数显薄膜测厚仪
阅读：1308 发布时间：2009-11-11| 提 供 商 | 北京兰德梅克科技开发有限公司 | 资料大小 | 238.202B |
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| 资料图片 | 下载次数 | 12次 | |
| 资料类型 | PDF 文件 | 浏览次数 | 1308次 |
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BMH-J3型数显薄膜测厚仪（千分尺）
一、 薄膜测厚仪主要技术指标：
测量厚度范围：（0-25）mm
测厚仪分辨率：0.001mm
电源：氧化银电池SR44
工作温度：0℃～+40℃
储运温度：-20～+70℃
相对湿度：≤80%
详情请查看附件