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详细介绍
XJP-412J倒置金相显微镜采用无限远光路设计，配有宽视场目镜和无限远长工作距离明/暗场物镜、偏光装置，是科研级大型金相显微镜，满足各种理化分析和检验要求，可以配置显微摄影摄像和图像分析系统。仪器可用作金相检验、金相分析（鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，铸件质量的鉴定，原材料的检验或材料处理后的金相组织分析），以及对表面喷涂、裂纹等进行研究工作。
XJP-412J倒置金相显微镜技术参数
技术规格 | ||
光学系统 | 无限远光学系统 | |
观察头 | 45°铰链式三目，可调瞳距（50mm-75mm） | |
目镜 | 宽视场平场目镜WF10×/22mm | |
| WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板 | ||
物镜 | 平场无限远长工作距离明/暗场物镜 5×/0.15（W.D.14.47mm） 10×/0.25（W.D.16.01mm） 20×/0.40（W.D.10.5mm） 50×/0.55（W.D.5.1mm） | |
转换器 | 带DIC插孔的大五孔转换器 | |
平台 | 机械移动式载物台 | |
| 平台尺寸: 255mm×170mm | ||
| 移动范围：70mm×50mm | ||
| 低位XY调节手轮 | ||
调焦 | 微动同轴调焦，微动格值0.001mm | |
光源 | 落射Kohler照明，带孔径光栏和视场光栏 卤素灯12V/100W,AC85V-230V，亮度连续可调节 | |
偏光装置 | 检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路 | |
滤色片 | 绿、蓝、中性 | |
检测工具 | 0.01mm测微尺 | |
可供附件 | 目镜：WF15X/17mm、WF20X/12.5mm | |
物镜：平场无限远厂工作距离明/暗物镜 80X/0.70（W.D.3.1mm）、100X/0.80（W.D.3.01mm） | ||
| 微分干涉（DIC）装置 | ||
摄影装置及CCD接口：0.5X、0.57X、0.75X 130万、200万、300万、500万 | ||
| 像素电子目镜 | ||
| 彩色1/3寸CCD700条线 | ||
| 二维测量软件 | ||
| 专业金相图像分析软件 | ||
| 测微目镜 | ||
| 各款工业相机 | ||
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