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详细介绍
XJP-403J工业金相显微镜可广泛用于机械工业的金相组织观察分析，地矿部门对矿物的分析研究，电子等方面的观察测量，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首先。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好，简洁而新颖的外观更符合现代潮流，人性化的设计，简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。
XJP-403J工业金相显微镜技术参数
技术规格 | 型号 | |||||
XJP-403J | XJP-403JT | XJP-403JA | XJP-403JAT | |||
观察头 | 45 度铰链式双目头 ( 50mm -75mm ) | ● | ● | |||
45 度铰链式三目头 ( 50mm -75mm ) | ● | ● | ||||
目镜 | WF10X /20mm | ● | ● | |||
WF10X /22mm | ● | ● | ||||
WF10X / 20mm 带十字分划板及0.1mm 刻尺 | ● | ● | ● | ● | ||
转换器 | 四孔转换器 | ● | ● | |||
五孔转换器 | ● | ● | ||||
物镜 | 195 金相物镜 | 4 X /0.1W.D .25mm | ● | ● | ||
10 X /0.25W.D .11mm | ||||||
20 X /0.4W.D .9mm | ||||||
40 X /0.6W.D. 3.8mm | ||||||
无限远金相物镜 | 4 X /0.1W.D .25mm | ● | ● | |||
10 X / 0.25W.D .12mm | ||||||
20 X / 0.4W.D .10mm | ||||||
40 X / 0.6W.D. 7.1mm | ||||||
50 X /0.75W.D. 1.9mm 80 X (S) /0.9W.D. 0.9mm | ○ | ○ | ○ | ○ | ||
平台 | 双层移动平台 | ● | ● | ● | ● | |
平台尺寸 : 242mm × 172mm | ||||||
中心载物台:Φ110mm | ||||||
移动范围 : 75mm × 50mm | ||||||
调焦 | 粗、微动同轴调焦，采用齿轮变速箱调焦机构，微动格值0.002mm | ● | ● | ● | ● | |
照明 | 落射柯勒照明，带孔径可变光栏和视场可变光栏 12V/30W.AC85V-230V 光源可调节 | ● | ● | ● | ● | |
偏光装置 | 检偏镜可 360 度转动，起偏镜检偏镜均可移出光路 | ● | ● | ● | ● | |
滤色片 | 蓝色、绿色、黄色 | ● | ● | ● | ● | |
检测工具 | 0.01mm 测微尺 | ● | ● | ● | ● | |
可供附件 | 130 万、200万、300 万、500万像素 CMOS电子目镜 | |||||
摄影装置 | ||||||
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