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QE Pro光谱仪

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更新时间:2018-12-25 10:43:57浏览次数:446

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产品简介

QE Pro光谱仪无论是高速测量或宽浓度范围的检测,QE Pro都能为您的实验室或在线应用提供的性能表现。

详细介绍

QE Pro光谱仪具有的高灵敏度与宽动态范围的特性使其成为了同等级中性能高的微型光谱仪。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、荧光与拉曼检测的精确度。而对于一些更高要求的测试,其可容纳15000张光谱的缓冲区可以在高速采集中保证数据的完整性,同时其*的光学设计与热电致冷器件可以大大提高长时间检测的热稳定性。因此无论是高速测量或宽浓度范围的检测,QE Pro都能为您的实验室或在线应用提供的性能表现。

QE Pro光谱仪技术参数

波长范围

可在185-1100nm范围内配置

光学分辨率

0.14-7.7nm(FWHM),取决于具体配置

系统信噪比

1000:1

A/D分辨率

18bit

动态范围

85,000(典型)

杂散光

<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm

缓冲区

可容纳15,000张谱图

TE制冷

低可致冷至比室温低40摄氏度。使用温度范围-40度至50度。  

宽动态范围

      由于采用了低噪音的电子部分与18位A/D转换器,QE Pro的动态范围是常见的背照薄型CCD阵列微型光谱仪的2倍,同时其灵敏度也提高了2倍。这些改进可以为实际应用带了很多好处,如可以使得吸光度或荧光检测的检出限更低,并可以在更宽的浓度范围内进行检测。

 

用于快速检测的缓冲区
      为了更好地支持快速的全谱数据采集,我们增大了板载缓冲区,使其现在可储存15,000光谱,从而在USB通讯的条件下,可以通过缓冲时间标签光谱来保证数据的完整性。因此在进行全谱动力学检测时,您可获得8ms/张或高125张/秒的全谱动力学数据。

可靠性能
      热电致冷可精确的控制检测器的温度,大大的降低热噪声的影响,从而改进长时间检测时的检测器的整体稳定性。QE Pro配备的热电致冷器件可在室温变化60度以上的情况下保持暗噪声稳定在4 counts,从而给您高质量的数据。QE Pro的高稳定性表现使其非常适合于那些要求严苛的,对温度变化非常敏感的在线或线旁质量控制检测。

     用于定位QE Pro中的光学器件的动态装配大大提高了QE Pro的准确性与可靠性。同时,新的RS-232通讯协议允许QE Pro的 Firmware可以进行现场升级,使得您总是可以拥有新功能的产品。

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