详细介绍
ARM 角分辨光谱仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点: 1 超过 60° 的角度 ARM 优选 Olympus 大 N.A. 平场复消色差物镜,收集超过 60° 的角向辐射光谱;匹配智能算法,快速实现包括 透射 / 反射 / 辐射 (荧光) 等 9 种光谱测量模式; 2 达 5 个维度的空间选择 ARM 内置一个设计的可调 Aperture,可以实现 X / Y 方向开口距离调节,XY 两维平面位置平移,及平面内 θ 方向旋转,准确抓取 复杂形貌 的微区样品; 3 小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊优化的消色差、消相差光路,能够将角度分辨率提升至 0.5°,显著提升光谱分析能力; 4 1.7μm 近红外拓展 NEW 新一代设计的 ARM 重新对角分辨光路系统进行构型,* 在近红外波段 900~1700nm 实现角分辨光谱测量,对推动光通讯、超表面、激光雷达等领域研究具有重要价值; 5 低温 + 磁场拓展 新一代 ARM 也拓展了对低温和磁场环境的支持,可适配低 2.7K 低温恒温器 和 5T 磁场强度 超导磁体; 6 除此之外,ARM 还可与外部光源及 Princeton Instruments 光谱仪衔接,实现包括时间分辨、空间相干性、瞬态光谱采集等功能。
ARM 角分辨光谱仪 技术起源:角分辨光谱技术(Angle-resolved Spectroscopy, ARS),诞生于复旦大学,是一种 精细化的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力,突破传统光谱技术不能分辨角度的局限,是获取光子材料色散关系,实现光学性质“全面表征”的重要且手段,在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。