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用途:FA/JF型电子分析天平,可供工矿企业、科学研究机构、高等学院、实验室、化验室、作精密衡量分析测定之用
用途:
FA/JF型电子分析天平,可供工矿企业、科学研究机构、高等学院、实验室、化验室、作精密衡量分析测定之用。
主要技术参数:
型 号 | FA1004 | JA1003 |
准确度级别 | Ⅰ级 | Ⅱ级 |
称量范围(g) | 0~100 | 0~100 |
实际标尺分度值(mg) | 0.1 | 1 |
去皮范围(g) | 0~100 | 0~100 |
重复性误差(标准偏差)(g) | 0.0002 | 0.001 |
线性误差(g) | ±0.0005 | ±0.002 |
稳定时间(典型)(s) | ≤6 | ≤6 |
积分时间(可调)(s) | 2/4/8 | 2/4/8 |
称盘直径(mm) | φ80 | φ80 |
外型尺寸(mm) | 360×217×345 | 360×217×345 |
净重(kg) | 7 | 7 |
电源 | 220V 、50Hz或110V±11V、60Hz | 220V 、50Hz或110V±11V、60Hz |
功率(V.A) | 15 | 15 |
自校砝码量值(g) | 100 | 100 |
开机预热时间(min) | 180 | 60 |
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