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全聚焦型双曲面弯晶

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更新时间:2019-02-23 11:45:35浏览次数:823

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产品简介

全聚焦型双曲面弯晶
• 单一能量入射(单色化入射)样品,减少连续谱线对被测元素的背景干扰;
• 入射能量略高于待测元素的吸收边,激发效率高;
• 入射强度高且稳定的激发源,提升待测元素的荧光强度;
• 入射能量聚焦到样品较小点或面,利于元素荧光射线的收集和探测;

详细介绍

全聚焦型双曲面弯晶 

*,X射线管出射的X射线光谱由靶材元素的特征线和轫致辐射连续谱组成,轫致辐射连续谱在样品上的散射是X射线荧光光谱分析中被测元素谱线背景的主要来源,是影响微量元素检出限的主要原因。

       因此,理想的用于激发样品元素的激发源如下特点:
• 单一能量入射(单色化入射)样品,减少连续谱线对被测元素的背景干扰;
• 入射能量略高于待测元素的吸收边,激发效率高;
• 入射强度高且稳定的激发源,提升待测元素的荧光强度;
• 入射能量聚焦到样品较小点或面,利于元素荧光射线的收集和探测;

       Johansson型双曲面弯晶具备以上特点的理想激发源,双曲面弯晶可以将光管特征X射线单色化,将入射X射线聚焦到样品较小面,同时,不同角度和材质的双曲面弯晶可以用于选择不同波长的射线,从而达到选择性和高效率激发样品中元素的能力。

        全聚焦型双曲面弯晶Johansson-typeDCC)能够对微焦斑X射线管出射的高强特征X射线进行Bragg衍射单色化并聚焦到直径数十到数百微米的聚焦面,对样品中的元素进行单波长激发,由于不再有连续谱入射到样品上,被测元素特征线理论上不存在连续的散射背景,因而具有的峰背比,极低的检出限,可以对微量甚至痕量元素进行定性定量检测。

 

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