场发射扫描电子显微镜具有较广泛 地适用性，可以在短时间内为材料研究人员提供的成像质量。当Apreo的电子束打开，形貌和成分衬度可以同时被镜筒内探溉系统呈现：无需繁琐操作，即可快速探索并获取样品各方面信息。在高放大倍率下，Apreo的长工作距离（如10mm分析工作距离）也能表现出杰出的分辨性能。

场发射扫描电子显微镜革命性的复合透镜设计结合了静电和磁力浸没技术，可产生*的分辨率和信号选择。这使得Apreo SEM成为研究纳米颗粒，催化剂，粉末和纳米器件的平台，同时不会影响磁性样品的性能。

Apreo SEM得益于*的镜头内反向散射检测，即使在倾斜，短工作距离或敏感样品上也能提供出色的材料对比度。新型复合透镜通过能量过滤进一步改善了对比度，并为绝缘样品的成像增加了电荷过滤。可选的低真空模式现在具有500 Pa的大腔室压力，即使是较苛刻的绝缘体也能成像。
凭借所有这些选项，包括复合终镜头，*的检测和灵活的样品处理，Apreo SEM的性能和多功能性将在未来许多年内满足您的研究挑战。
 

新型Apreo扫描电子显微镜（SEM）可为各种材料（包括纳米颗粒，金属，复合材料和涂层）提供高性能，并结合创新功能，以获得更好的分辨率，对比度和易用性。