Phenom Particle Metric 颗粒测量器

Phenom Particle Metric 颗粒测量器

基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案ParticleMetric能够使用户根据需要，随时获取所观测颗粒的面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度（椭圆）、凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据，终实现ParticleMetric加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。

Phenom Particle Metric 颗粒测量器 的功能

1.可进行以下颗粒分析

l.颗粒尺寸范围：100nm ~ 0.1mm

l 颗粒探测速度：高达1000个/分钟

颗粒测量属性：大小、形状、数量

2.可以测量的颗粒参数

面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比

充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆）

凸壳体、重心、像素点数、凸状物

3.可以提供的图形显示

按数量或体积的线性、对数、双对数点状图

任何参数的散点图

单个颗粒的SEM图像

4.可以提供的图形输出

Word版本docx格式的报告，TIFF格式的图像

CSV文件，离线分析的项目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric工具的优势

1.加载ParticleMetric软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像，方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据；

2.全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统ParticleMetric软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果，为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据；

3.ParticleMetric软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关趋势；

4.直接由Phenom获取图像，识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒，关联颗粒物的特征，比如直径、充实度、纵横比和凹凸度；

5.便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化；

6.无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考；

7.Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样一定程度视觉化；

8.附有高清图片的统计学数