XOS HD Prime 分析仪

XOS HD Prime 分析仪

— 检测日用消费品中有毒元素

检测精准，操作便捷，样品无损，符合 ASTM F2853 和 F2617 标准。

HD Prime™ 分析仪可快速定性筛检和准确定量检测重金属和其他禁限有毒元素，是目前市场上较全面、性价比高的检测方法。

不管标准和法规如何变化，该分析仪均能确保制造商、测试实验室、零售商和检测机构提交符合要求的文件。

XOS HD Prime 分析仪

拥有如下特性：

很容易同步测出产品涂层和基材中的元素成份

具有*的禁限金属检测下限

1mm 小面积分析，可以检测微小特性或组分和不规则形状样品

无损测量；无需样品准备

在多种环境中均方便使用

实现快速定性筛检或准确定量分析

自动保存高质量图像和扫描数据

唯有HDXRF® 是快速定性筛检和准确定量检测儿童用品中有毒元素的理想之选，操作便捷，性价比高。该分析仪提供无损测量，前期无需费时费力对价格昂贵的样品进行破坏性处理，需要时亦可返回审查记录的原始数据。

HDXRF 是一种元素分析技术，它采用获得 DCC 光学透镜以加强对儿童用品检测的精准度。

HDXRF 的主要优势是可以分别对产品涂层和基材进行元素定量分析。多个 DCC 透镜截获来自X光管的X白光束，并选定几个不同能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测样品表面。

HDXRF选择高低能量不同的单色激发束，使用户能分别定量测出涂层和基底材料中有毒元素的成份。

HDXRF采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音，从而大大改善元素探测极限[参见下述图表]。这种技术采用聚焦束激发样品，可以形成一个准确且高度聚焦的 1mm 样品分析面积。该图表显示了 HDXRF 的基本构架，用于对玩具和儿童用品中的有毒元素进行检测。