二次离子飞行时间质谱

二次离子飞行时间质谱

是Kore公司集多年研发经验生产出*的仪器，*次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在短的分析时间内生成化学图像，突破常规实验室仪器的极限!

SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱SIMS技术，结构紧凑，仅需一个标准电源，可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛，是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对较低的维护成本和较高的样品分析速度，保证其单个样品分析成本明显低于商业实验室的SIMS。SurfaceSeer是研究人员负担得起的、具有表面成像功能 (可选深度剖析) 的仪器。

TOF-SIMS

二次离子质谱仪 (SIMS) 是材料表面分析重要的技术之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子层的化学组成。所获取的信息远超过简单的元素分析，可以识别有机组分的分子结构。

TOF-SIMS 的关键功能是原位无损分析表面区域 (静态SIMS)。TOF-SIMS使用扫描脉冲聚焦探头束（成像SIMS）建立无损表面的化学成像。使用其它离子束逐步刻蚀表面，对表面作深度剖析（动态SIMS）。只需极少的样品前处理，极短的时间内就可获得高灵敏度的分析结果 。
 

二次离子飞行时间质谱特点

 单层表面信息

 检测所有元素

 识别有机物

 高灵敏度分析

 快速化学成像

 薄膜深度剖析

 设计紧凑

 经济适用，友好的用户界面

SurfaceSeer拥有功能强大的样品处理装置提供各种样品支架，可装载不同厚度和直径的样品。

SurfaceSeer检测未知样品如同检测已知样品那样简单，对未知样品具有*的分析性能, 可研究微小区域的表面，并可提取更多的有机样品信息。

SurfaceSeer质谱仪可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。

SurfaceSeer所有储存的数据都能用于溯源性分析。数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取。SIMS拥有的常见材料谱库可帮助识别未知物。

SurfaceSeer应用领域:

表面涂层与处理

电子元件

半导体

电极与传感器

润滑剂

催化剂

粘合剂

薄膜

包装材料

腐蚀研究

大学教学与科研