成像型穆勒矩阵测量系统

成像型穆勒矩阵测量系统是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统，在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究，工业测量，光学组件偏振特性测量，制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持，可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟，圆偏相位延迟（或旋光），线性二向色性偏振衰减，圆二向色性偏振衰减图样。

成像型穆勒矩阵测量系统通过使用光弹调制器和相应偏振测量技术， 150XT 型穆勒矩阵椭偏仪在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款高速高精度穆勒矩阵测量系统对于科研研究，工业测量，光学组件偏振特性测量，制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。这套穆勒矩阵测量系统报包含完整软件支持，可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟，圆偏相位延迟（或旋光），线性二向色性偏振衰减，圆二向色性偏振衰减图样。

科研/工业研发

♦ 品控/质检测量

♦ 如下各种样品的全偏振特性的测量：

1. 科研级复杂内部结构光学组件

2. 各种双折射/倍频晶体

3. 复杂层级LCD

4. 同晶晶体

5. 各向异性晶体

6. 化学和生物光学各向异性材料

7. 由磁场/电场引起的各向异性样品