XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪

XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪可广泛用于光学镜片、透镜胶合组胶合，光学镜头制造过程中的监控及测定，是光学元件加工厂、光学仪器生产厂及科研机构大专院校计量单位*的光学检测设备。

XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪采用反射定中心原理，测定精度高，测定范围广（±∞），工装的通用性强，操作与检测直观方便，为终实现数字化测量创造了条件。

技术参数：

1. 测量范围 ---------------------------------------- ∞～+∞

2. 分划小格值 ------------------------------------ C=0.0025mm/格

3. 被检测光学件直径 -------------------------------- Ф1～Ф150

4. 输入电压 ---------------------------------------- AC85V～260V

5. 外形尺寸 ---------------------------------------- 370X270X800mm

上海星庆光学仪器有限公司创办于1992年，是一个集生产制造多品种高精度的光学零部件,多系列、高精密度的光学仪器产品和销售的高科技光机电仪器一体化的专业制造企业。经多年的磨砺和不断发展壮大，企业现已成为厂房面积达1800多平方米；拥有员工80余名，其中工程技术人员30名；配有各种加工、测试设备50余台（套）；众多用户熟知的具有*产品研发和制造能力。公司为更好地进行市场运作而成立的上海嘉星光学科技有限公司（销售公司）,使公司更具有运营、市场推广及业务拓展的能力。