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详细介绍
运用荧光X射线测定镀膜厚度。本公司的SFT系列膜厚测量仪被称作标准的机器。有小型零部件用的SFT9200和大型打印基板用的SFT9255。装备着防止样品和设备构造不*的功能。
| 型号 | SFT9200系列 |
| 射线源 | 空冷式小型X射线管 |
| 准直器 | 型 0.2 x 0.05mm、0.05 x 0.2mm |
| 样品观察 | CCD照相机 |
| 过滤器 | Co:自动切换 |
| 样品平台 | 移动量: 220（X）x 150（Y）x 150（Z）mm |
| X-ray Station | 电脑（Windows2000®）17英寸CRT |
运用荧光X射线测定镀膜厚度。本公司的SFT系列膜厚测量仪被称作标准的机器。有小型零部件用的SFT9200和大型打印基板用的SFT9255。装备着防止样品和设备构造不*的功能。
·是SFT3000系列的后续机型。
·依据照明，可以看到以前观察困难的样品。
·搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
·运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
·微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。（任选）
·搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。（任选）
后续更新中..........
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