◆同时分析: 几十种元素同时分析
◆测镀层厚度精确至0.005微米
◆测量对象: 固体、粉未、液体
◆测量时间: 60-300 秒
◆测量精度 : 0.05%
◆分析元素: Na-U
◆工作温度: 15-26℃
◆相对湿度: ≤70%
◆重量 : 80KG
◆功耗: 200瓦
◆计算机、喷墨打印机
◆真空泵(可选)
◆压片机(可选)
◆硅针半导体探测器
◆放大电路
◆高低压电源
◆X光管
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