EDX3600B能量色散X荧光光谱仪
◆陪备真空腔和高性能真空泵，全自动真空控制系统，使真空测试过程更加智能化
◆镀层厚度测量精确至0.005微米
◆分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备将空气抽出，使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
◆镀层厚度测量精确至0.005微米
◆分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备将空气抽出，使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
◆◆技术指标
◆测量元素:从钠至铀等 75 种元素
◆测量对象:粉末、固体、液体
◆元素含量分析范围:1ppm-99.99%
◆ RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限zui高达1ppm
◆测量时间: 60-200s
◆能量分辨率为： 140±5eV（德国产SDD探测器）
◆ 测量精度: < 0.05%
◆管压：5-50kV
◆管流：50-1000uA
◆温度适应范围： 15-30℃
◆相对湿度：≤70％
◆仪器功率：≤200W
◆工作电压:AC 110V/220V
◆三维自由超大样品腔设计，样品腔尺寸Φ320×180mm
◆一次可同时分析24个元素
◆重量：75kg
◆测量元素:从钠至铀等 75 种元素
◆测量对象:粉末、固体、液体
◆元素含量分析范围:1ppm-99.99%
◆ RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限zui高达1ppm
◆测量时间: 60-200s
◆能量分辨率为： 140±5eV（德国产SDD探测器）
◆ 测量精度: < 0.05%
◆管压：5-50kV
◆管流：50-1000uA
◆温度适应范围： 15-30℃
◆相对湿度：≤70％
◆仪器功率：≤200W
◆工作电压:AC 110V/220V
◆三维自由超大样品腔设计，样品腔尺寸Φ320×180mm
◆一次可同时分析24个元素
◆重量：75kg
◆◆配置
◆X光管
◆放大电路
◆高低压电源
◆双激光定位系统
◆对被测样品可以放大100倍
◆清晰观测检测部位
◆计算机、喷墨打印机
◆硅针半导体探测器
◆高清晰摄像头，*的光路增强系统
◆软件，操作界面十分友好
◆X光管
◆放大电路
◆高低压电源
◆双激光定位系统
◆对被测样品可以放大100倍
◆清晰观测检测部位
◆计算机、喷墨打印机
◆硅针半导体探测器
◆高清晰摄像头，*的光路增强系统
◆软件，操作界面十分友好
智能制造网