FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪 返回列表页

产品描述

XDV-SDD测量空间宽大，样品放置便捷，可以放置平整的样品，也可以放置形状复杂的大样品。连续测试或镀层厚度和元素分布的测量都可以方便地用快速可编程XY工作台完成。操作很人性化，测量门开启方便，仪器前部控制面板具备多种功能，日常使用轻松便捷。

XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外，仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立优化的激发条件。FISCHERSCOPE  XRAY XDVSDD型仪器配备了感应区域大而分辨率良好的硅漂移接收器，这样在使用大准直器的情况下，可以达到很高的计数率，从而实现良好的重复精度和极低的检测下限。XDV-SDD极其适合痕量分析中超薄镀层的测量。由于提高了低能辐射的灵敏度，同时可测元素的范围也扩“大到更低原子序数的元素，这样就可以可靠测量空气中的磷或铝。

应用实例：

法律条例严格限制多种有害物质的含量，例如电子元件，玩具或包装材料。XDV-SDD使得快速方便地检测是否符合这些限制成为可能。例如，测量检出限仅仅几个ppm的特别重要的化学元素Pb、Hg和Cd等。

特征：

典型应用领域：