产品展厅收藏该商铺

您好 登录 注册

当前位置:
铂悦仪器(上海)有限公司 广州办事处>>x-ray镀层测厚仪>>x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

返回列表页
  • x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

收藏
举报
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 上海

在线询价 收藏产品 加入对比

更新时间:2022-08-19 17:17:13浏览次数:392

联系我们时请说明是智能制造网上看到的信息,谢谢!

产品简介

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。

详细介绍

x-ray 镀层测厚仪M1 ORA


M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。

样品尺寸zui大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越精确。可以检测含量在0.5%以上的元素

基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高,精度达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。

黄金成色分析可以用K(开)或质量百分比(%)表示

珠宝、黄金、贵金属分析

珠宝与贵金属饰品的货币兼一职不是主要由设计和制作人工决定、而是zui主要由合金中贵金属成分及宝石的种类和品质所决定。已知的集中合金分析方法,zui古老精确的为火练法,首先采用高精度高密度天秤秤重一块原始金属,然后通过不同步奏(氧化和溶解)去除非金属物质,zui后秤重余量。但是这方法很好使,而且需破坏样品,同时也产生很多有毒污染物和气体。

X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析,同时能够得到高精确度测试结果的分析方法

由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵金属组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点,精确闫策样品成分。

X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素

黄金成分范围35%8克拉/K~*24克拉/K

适用于:白金、黄金、铂合金、银合金,分析精度优于0.2%

M1ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF),结构紧凑、占用空间小。

技术规格:

光源高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗

电压、功率40KV40W

探测器大面积正比计数器1100mm2感应面积

光斑尺寸0.3-1.0mm准直管(出厂时设定)

样品观察高分辨彩色摄像系统,放大倍数20-40

样品台手动剪式样品升降台

定量分析基于标准样品的经验模型

基于基本参数法的无标准模型

电源:230V/500Hz,100W

尺寸:355×330×330mm

重量:26公斤

收藏该商铺

登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

对比框

产品对比 二维码 意见反馈

扫一扫访问手机商铺
在线留言