X射线膜厚仪

X射线膜厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板.其比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量.

X射线膜厚仪的可测元素范围：
氯（CL） – 铀（U）
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV（程控）
电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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