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详细介绍
一、TT230时代涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
二、时代涂层测厚仪——执行标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JG 818─93 《电涡流式测厚仪》
三、涂层测厚仪——功能特点 ：
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能
四、涂层测厚仪——技术参数表：
测头类型 | N | |
测量原理 | 电涡流 | |
测量范围 | 0-1250um/0-40um（铜上镀铬） | |
低限分辨力 | 1µm（10um以下为0.1um） | |
探头连接方式 | 一体化 | |
示值误差 | 一点校准（um） | ±[3%H+1.5] |
两点校准（um） | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
测量条件 | zui小曲率半径（mm） | 凸3 凹10 |
基体zui小面积的直径（mm） | ф5 | |
zui小临界厚度（mm） | 0.3 | |
温湿度
| 0~40℃ 20%RH～90%RH
| |
统计功能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV） | |
工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl） | |
测量方式 | 连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） | |
上下限设置 | 无 | |
存储能力 | 15 个测量值 | |
打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
关机方式 | 自动 | |
电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g | |
五、涂层测厚仪——标准配置：
主机
z标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z铁基体
z充电器
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