纳米粒径与电位分析仪

Nicomp 380 Z3000系列纳米粒径与电位分析仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。

纳米粒径与电位分析仪技术优势

1、APD&PMT双检测器；

2、多角度检测（multi angle）模块；

3、可搭配不同功率光源；

4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；

5、钯电极；

6、精确度高，接近样品真实值；

7、复合型算法：

 高斯（Gaussion）单峰算法与的Nicomp多峰算法自由切换

 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换

8、快速检测，可以追溯历史数据；

9、结果数据以多种形式和格式呈现；

10、符合USP,CP等个多药典要求；

11、无需校准；

12、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换

10、模块化设计便于维护和升级；

（1）可自动稀释模块；

（2）搭配多角度检测器；

（3）自动进样系统（选配）；

380/MA多角度检测器

粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。