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高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪
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访问次数:303更新时间:2020-12-08 10:21:54

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产品简介
高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟
产品介绍

高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪,能够提高质量控制分析的检测速度,并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪技术特点

· 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

·  可用于微孔分析

· 标配一个的饱和压力接口,可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

· 可升级成高真空系统,用于低比表面积以及微孔的测试

· 可以测定、计算或手动输入自由空间

· 可以使用任何气体,死体积测试可以不使用氦气

· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务,确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

· 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹,以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定 

· 仪器可同时进行三个样品的分析,满足测试量大的用户,不是多个工作站的"排队分析",每个分析站都配有独立的传感器,保证三个分析站分析的同时进行

· 配备了大容量杜瓦瓶,结合液氮等温夹,保证至少60小时无人介入操作。大无上限的连续分析             

· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:

单点和多点BET比表面积,Langmuir比表面积

Temkin and Freundlich等温线分析

多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布

孔体积和用户孔径范围内的总孔体积

MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积

f-Ratio plots,D-R,D-A

H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)

DFT密度函数理论,包括NLDFT等

 

可选TriStar II Plus 型号,实现下列功能:新

  • *的耐腐蚀的不锈钢歧管,用于高精度的气体管理
  • 可选氪气选项,以用于非常低的比表面测试
  • 直观的MicroActive 软件使用户能够用交互方式分析等温线数据,更快地获得比表面与孔径数据
  • 更强的能包含压汞数据的文件添加叠加删除功能
  • 用户自定义报告选项允许直接建模
  • 强大的Python 脚本语言,允许用户开发TriStar II Plus 软件标准报告库扩展程序
  • 创新的仪器显示屏,方便的仪器性能指标和维护信息实时显示功能
  • 能够在碳微孔分析中同时利用CO2 与N2 两个等温线通过NLDFT 理论来计算全范围孔径

 

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