日立分析EA1000VX X射线荧光分析仪

日立分析EA1000VX X射线荧光分析仪概要：

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。

日立分析EA1000VX X射线荧光分析仪型号：EA1000VX

测量元素：原子序数13(Al)～92(U)

样品形态：固体、粉末、液体

射线源：X射线管球(Rh靶材)    

管电压：zui大50kV  管电流：zui大1000μA

检测器：多阴极半导体检测器

分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)

样品观察：彩色CCD摄像头

滤波器：5种模式自动切换

样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm

定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示

定量分析：块体校准曲线、块体FP法

有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy   

                              材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

数据处理：配备EXCEL、配备WORD

外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm

安装尺寸：1500（W）×1000（D）

重量：约60kg

使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相 

选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质

特点：

1. 快速测量

与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。

2. 高技术率检测器（Vortex）

不需要液氮，使用zui大15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。

3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能

测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。