详细介绍
高精度0.01μ影像测量仪EVM-3020T ZNC是在测量投影仪的基础上进行的一次质的飞跃,它将工业计量方式从传统的光学投影对位提升到了依托于数位影像时代而产生的计算机屏幕测量。换句话说影像测量仪是依托于计算机屏幕测量技术和强大的空间几何运算软件而存在的。
高精度0.01μ影像测量仪EVM-3020T ZNC技术参数
机台行程(X,Y) :300 mm×200 mm×200mm。
分辨率:0.00001mm(优良式光栅)
X、Y轴线性精度:U=( 2.5+L/200 )μm
重复精度:±0.002 mm
载物台尺寸:460 mm×360 mm
玻璃台尺寸:340 mm×240 mm。
承载重量:20 kg。
工件限高:200mm
影像系统:日本SONY芯片47万像素高解析工业彩色摄影机。
影像卡:Easson专业影像卡。
物镜:F-1高精度全闭环自动变倍光学镜头
光学放大倍率0.75×-4.5×
影像放大倍率:30-150×
照明系统:F-100 40路全功能光源(带激光辅助对焦)。
传动方式:光杆传动+双导轨。
操作方式:X、Y 手轮+快移 Z电动。
主机外形尺寸:690 mm×720mm×890 mm
整机外形尺寸:1350 mm×800 mm×1700 mm
机台基座、Z轴立柱:高精度花岗岩平台
量测软件:光学视觉量测软件Easson 2D ---- 自主开发,免费升级。
数据输出:测量数据Word(doc)、Excel(xls)
物件放大摄像图形(bmp、jpg)、二维图形AutoCAD(dxf)
SPC分析,数据Word(doc格式)、Excel(xls格式)
数据导入:二维图形AutoCAD(dxf))
电源:AC 220±5V、50Hz
使用环境:温度 20±3 ℃,湿度35%-65%
探针测量:
1.测针工作原理:
测针是测量系统的组成部分,当测针的测针头与被测工件接触时,测针头变化带动测头机构产生信号,在经过处理得出测量结果,达到检测目的。
2.测针测量误差来源
环境温湿度,测针组成材料的刚度,测针头的精度,测针头与测针柄部螺纹同轴度,测针柄螺纹的精度,测针头与被测工件接触位置。
建议在精密测量时,应对测针进行标定,否则将降低测量精度。
3.测针选择原则
1.测球直径尽量大,已减少被测工件表面粗糙度对检测结果的影响。
2.测针尽量短,测针超短其弯曲或变形量越少,精度越高。
3.接头尽量减少,每增加一个连接点,便增加了一个潜在的弯曲和变形点。
4.测针连接形式
螺纹或直柄连接
5.球形螺纹连接直测针的基本机构
测针头、测针杆、测针柄、加长杆、防撞保护座等。