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详细介绍
为了实现良好的频率特性，将基本原理忠实地应用在各回路·基板的组件·外壳结构等并贯彻落实。
此外通过数值分析和周密的验证将内部基板式样的形状以及屏蔽结构调整成适用的状态，从而实现100kHz~3GHz 良好的频率特性，这些技术精华都浓缩于这台小巧的机身之中。
关于测试头的测量端口，为了提高宽频带的测量精度，优化了微波连接器中脱卸再现性，采用频率范围更广的3.5mm 连接器。
日置HIOKI阻抗分析仪测量部分采用高分辨率A /D 变频器。通过控制输入信号的电平和频率大限度的充分利用A /D 变频器的动态量程，实现宽阻抗测量范围以及低偏差测量。配置与模拟回路的补偿FPGA，配备了适合回路的数字滤波器消除干扰。此外，主要FPGA 是通过将64bit 浮动点运算进行多段传输，以减少误
差实现高速运算处理。致力于测量的稳定性和高速化。
各部分均采用贴合基板上的式样和IC 形状的固定保护板，减少内部相互接触。此外，对于外部辐射的降低和抗干扰性能提高等方面，在机身做到轻量级别的同时也满足EMC 的高标准。
IM7580系列日置HIOKI阻抗分析仪
根据频率有5种机型可供选择
IM7580A
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
基本参数
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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