AXIOM系列X射线镀层测厚仪

AXIOM系列

适用于：|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|

AXIOM系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。

     AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。

一、AXIOM系列X射线镀层测厚仪功能：

1、性能及符合性：

通过PTB认证，符合*高辐射安全标准

检测方法通过ISO 3497，ASTM B568，DIN 50987和IEC 62321等认证

开槽式大样品台

可编程的XY样品台

样品腔体积（宽/深/高）：600 X 500 X 172.5mm（W X D X H）

特殊的防撞设计

2、可编程的样品台

预定位激光技术

*大化样品台行程范围及速度

自动测量

3、软件及校准

基于WINDOWS 10操作系统

选择经验校准以实现*大准确性或选择FP无标样模式以轻松

成分分析：可自由选择元素，同时实现多于20种元素的定量分析

厚度测量：可自定义镀层结构，*多同时测定5层

二、特点

采用微聚焦硼窗X射线光管，实现高精度、高可靠性，测量时间短、

使用寿命长、购置成本低

采用高分辨SDD探测器，提供能量级别的*佳效率，

极低的检出限(LOD)

多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率

开槽式超大样品舱设计，十分适合标准及超大样品

“USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外硬件。

*，符合*高工程标准

坚固耐用的设计可实现*可靠性

通过PTB认证，满足*高辐射安全标准

三、操作步骤

1、将样品放在大样品台上

     无损分析：无需样品制备

     样品易定位，大舱门和开槽设计有利于大型平板样品

     操作安全

     侧窗式：更易观察到样品

2、选择样品测量点

     精的测量点定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像装置

     操纵杆或鼠标控制实现快速简便的样品定位

     以客户定制的分析模式完成单点或多点分析

3、结果报告

     高清彩**像，易于识别

     测试结果一键导出到Word，Excel，HTML和PDF格式

     客户定制的报告，简单，灵活