奥林巴斯45mg超声测厚仪功能:
操作简便、坚固耐用、性能可靠
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
使用双晶探头对腐蚀工件进行测量
使用单晶探头对工件进行精确测量
标准功能
45mg仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过zui基本的培训，就可完成zui常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
zui小值/zui大值模式
两个报警模式
差值模式
时基B扫描
缩减率
增益调整（标准、高、低）
密码式仪器锁定
奥林巴斯45MG超声测厚仪技术参数：
测量参数：
测量功能：zui小值/zui大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 |
厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量zui全的范围需要使用单晶选项） |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般规格
操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 |
标准 | 设计符合EN15317标准 |
显示
彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） |
输入/输出
USB | 2.0从接口 |
存储卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
内置数据记录器（可选）
数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 |
文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 |
文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
报告 | 机载报告总结了数据统计和zui小值/zui大值 |
标准配置
1.数字式超声测厚仪
2.AA碱性电池
3.2阶试块和耦合剂
4.USB线缆
5.用户手册，存于CD盘上
软件选项
45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头
45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头
45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层
45MG-WF (U8147019)：波形选项
45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序
选购附件
MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置MicroSD存储卡
45MG-RPC (U8779676)： 带支架的橡胶保护套
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