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三箱式温度冷热冲击试验箱芯片测试

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更新时间:2021-07-27 10:46:02浏览次数:236次

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三箱式温度冷热冲击试验箱芯片测试
用途:
冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

三箱式温度冷热冲击试验箱芯片测试

用途:

冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

冷热冲击试验箱A12c 800×800.jpg

高低温冲击试验箱执行与满足标准:

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. GJB150.3-86;

5. 标GJB150.4-86;

6. 标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

三箱式冲击试验箱 A1a 800×800.jpg

三箱式温度冷热冲击试验箱芯片测试

工作原理:

高低制冷循环均采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。最后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

不同温段冲击:由多级蒸发器结构相应切断,控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配,使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量,达到恒定节能;另有独立的换气阀门,在排气(常温恢复)时动作引入环境空气。

进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。

排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。

预先设定试验开始时间,试验箱自动开始起动并准备开始试验。

曝露时间缩短功能。

试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。

前处理/后处理功能。

在循环试验开始前或结束后,试样被曝露在高温环境(热处理)维持一定时间。

干燥运转功能。

试验结件下运转一定的时间。

三箱式冲击试验箱 Bee 800×800.jpg


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