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AFTvision CL 带同轴光工业显微镜头
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访问次数:425更新时间:2021-11-05 13:50:58

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产品简介
(工业放大镜头、工业显微镜头、工业微距镜头、工业近摄镜头)  AFTvisionCL带同轴光工业显微镜头采用全新超低失真、高分辨率设计,具有清晰度高,倍率固定,光学无畸变,高对比度等特点
产品介绍

(工业放大镜头、工业显微镜头、工业微距镜头、工业近摄镜头)

  AFTvision CL带同轴光工业显微镜头采用全新超低失真、高分辨率设计,具有清晰度高,倍率固定,光学无畸变,高对比度等特点。镜头上带同轴光源接口设计,多种结构,多种开口方向,适合不同坏境下使用,能配合百万像素以上1/3,1/2,2/3工业相机使用,用于同轴照明下才能观察到的具有反射特性的显微物体,如晶片或液晶玻璃底基校正等机器视觉系统中。


带同轴光工业显微镜头

镜头参数对照表

型号

放大倍率
×倍数

工作距离(mm

视场H×V(mm

接口
类型

兼容CCD

外形尺寸

重量

1/3"CCD

1/2"CCD

AFT-CL-A

0.5X、0.6X、0.8X、1X、1.2X、1.5X、2X、3X、4X、5X、6X可选

210、200、180、150、135、100、80、70、50、45、30、25等可选

0.2mm-15mm
等可调,可按客
户要求选择

0.2mm-15mm
等可调,可按
客户要求选择

C

~1/2

φ13、φ11

 

AFT-CL-B

C

~1/2

φ26

 

AFT-CL-C

C

~1/2

φ17

 

AFT-CL-D

C

~1/2

φ13

 

AFT-CL-E

C

~1/2

φ17

 

AFT-CL-F

C

~1/2

φ18

 

AFT-CL-G

C

~1/2

φ13

 

  1、 可按客户要求的工作距离及视场范围设计定做镜头,周期1-2周。
  2、 镜头按顺序依次是A,B…G,下边方框镜头图片是组合型,箭头方向是镜头开口方向

  广泛用于反射度*的物体定位检测,如:金属、玻璃、胶片、晶片等表面的划伤检测,芯片和硅晶片的破损检测,MARK点定位,玻璃割片机、点胶机、SMT检测、贴版机等工业精密对位、定位、零件确认、尺寸测量、工业显微等CCD视觉对位、测量装置等领域。

 

 



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