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数字式四探针测试仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号LY.4-8

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2022-02-04 14:48:39浏览次数:116次

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数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。

数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。


技术指标 :

 测量范围

 电阻率:10-4~105 Ω.cm(可扩展);  
 方块电阻:10-3~106 Ω/□(可扩展);
 电导率:10-5~104 s/cm;
 电阻:10-4~105 Ω;

可测晶片直径

 140mmX150mm(配S-2A型测试台);
 200mmX200mm(配S-2B型测试台);
 400mmX500mm(配S-2C型测试台);

恒流源

 电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调

数字电压表

 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 输入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;

四探针探头基本指标

 间距:1±0.01mm;
 针间绝缘电阻:≥1000MΩ;
 机械游移率:≤0.3%;
 探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
 探针压力:5~16 牛顿(总力);

四探针探头应用参数

 (见探头附带的合格证)

模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87进行)

 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字

整机测量zui大相对误差

(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%

整机测量标准不确定度

 ≤5%

计算机通讯接口

 并口

标准使用环境

 温度:23±2℃;
 相对湿度:≤65%;
 无高频干扰;
 无强光直射;

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