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　　膜厚测试仪的工作原理，当心损坏机器

　　涂镀层测厚仪的相关工作原理之近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使丈量精度和重现性有了大幅度的进步(几乎达一个数目级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流丈量原理_磁吸力丈量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，应误差达1%，量程达10。

　　膜厚仪采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量，如航天表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可丈量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。

　　膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

　　膜厚仪分类

　　定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

　　光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

　　统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

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