丞普诺仪器（苏州）有限公司一家从事精密检测仪器设备的销售，培训，维修维护，并提供配套应用分析及实验室建构方案的一家专属公司。

　　膜厚仪的使用：

　　测定准备

　　（1）确保电池正负极方向正确无误后设定。

　　（2）探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象，在本体上进行设定。

　　测定方法

　　（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

　　（2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

　　（3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。

　　膜厚仪采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量，如航天表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可丈量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。

　　膜厚仪主要性能优势：采用极速探测器技术；探测信噪比更强，检出限更低；采用大功率X光管及的数字多道技术；光闸系统，提高测试效率与测试精度；精密的定位系统，更清晰的显示测试点；多点测试，多点连续测试超小样品检测；人性化的设计：更安全、更快捷：预约预热：预约关机。

　　膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的“元凶"，本文就介绍一下膜厚仪在不同环境下影响因素的有关说明：

　　1、基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

　　2、基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　3、基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　4、边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　5、曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　6、试件的变形

　　测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　7、表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度，影响。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　8、磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　9、附着物质

　　本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。

　　10、测量头压力

　　测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　11、测量头的取向

　　测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。

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