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ADPC 302
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访问次数:204更新时间:2022-04-11 15:49:55

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产品简介
ADPC 302 是一款在半导体领域*的用于粒子污染监测的过程内污染管理系统。
产品介绍

高效粒子监测


亚微米粒子会造成可能导致相当大产量损失的缺陷。即使是测量值为 0.1 μm 的最小粒子,也可能会损坏半导体芯片的结构。创新的 ADPC 302 可测量晶片传送载体内的粒子数量(前开式晶圆传送盒 FOUP,前开式装运箱 FOSB)。全自动的工艺从载体表面(包括门)对粒子进行定位和计数。得益于的晶圆,该系统可用于成批生产和研发分析。主要应用是载体特征化、清洗策略优化和清洗质量检查。与传统湿法相比较(液体颗粒计数器),ADPC 的干式工艺(干式粒子计数器)显示出了明显的优势。干式工艺的主要优势在于粒子测量是*自动的。它是在生产过程中集成的,因此不再需要生产周期之外的时间。有了全自动测量,该过程无需额外的操作员。测试时间只需 7分钟,意味着 ADPC 302 的速度是传统系统的 4 倍。可在 1 个小时内测试 8 个运输箱。




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