深圳市阿诺迪电子有限公司
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产品介绍
机型 | YSi-12(型号:KKH-000) |
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对象基板 | L600 x W460mm~L50 x W50mm ※可通过选配对应 L780×W460mm~L50×W50mm |
检查速度 | 18m 秒/cm2 [5,555mm2/秒(三层圆顶照明,本公司条件)] |
XY分辨率 | 可视光: 红外线;19μm (出厂前可选择19μm/10μm/5μm) |
高分辨率 | 激光: 5μm |
检查对象 | 印刷后的锡膏检查 贴装后的元件检查 炉后的元件及锡膏检查 |
电源规格 | 単相AC 200/208/220/230 V ±10% 50/60 Hz |
供气源 | 0.4MPa以上、清洁干燥状态 |
外形尺寸 (突起部分除外) | L1,254×W1,510×H1,445mm |
主体重量 | 约1,200kg |
介绍
YSi-12高速度、高精度、混合光学外观检查装置
具备XY可达 10μm、Z可达 5 μm的高分辨率
~可避免判定的模糊性,实现与计测器同等的高精度检测~
检查速度L330×W250mm的基板平均每张可达15秒(在3层照明的条件下)
可选择5种不同的方法实现检查
上中下层3色,外加IR的10种图像识别
配备500万像素的检查相机