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德国PHYNIX Surfix分体式测厚仪
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访问次数:135更新时间:2022-08-19 17:16:58

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产品简介
产品简介:新科技,手机外形,最小测面积菜单操作,分辨率0.1μm,两类基体自动识别量程:0-1500μm,0-60mils,90°直角探头九种规格,统计值在线显示德国PHYNIX公司制造
产品介绍

产品简介:新科技,手机外形,最小测面积菜单操作,分辨率0.1μm,两类基体自动识别量程:0-1500μm,0-60mils,90°直角探头九种规格,统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。

德国PHYNIX Surfix分体式测厚仪

产品介绍:

德国PHYNIX 型号:(B)FN,(B)F,(B)N (旧款机型)
产地:德国

特点:新科技,手机外形,最小测面积菜单操作,分辨率0.1μm,两类基体自动识别量程:0-1500μm,0-60mils,90°直角探头九种规格,统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。

技术参数:

测量范围 0-1500μm,0 - 60mils
误差 1μm或1%读数
分辨率 0.1μm或<测量读值的2%
显示 背景照明,四位读数显示,两行统计数字显示,

英文操 作指南
基体最小面积 5mmX5mm
基体最小曲率 凸面:1.5mm 凹面:5mm
基体最小厚度 F型:0.2mm ,N型: 50μm
校准 厂家校准,零校准,校准箔校准
数据统计(统计型)
读数个数(最多9999个),平均值,标准偏差,
值和最小值
数据存储(统计型) 最多200个测量数值,可单独调出
数据值(统计型) 上下限可调,声音报警
数据接口 红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度 0-50℃/150℃
电源 2节1.5伏AA碱性干电池
仪器尺寸 137x66x23
符合标准 DIN,ISO,ASTM,BS

可选型号:

1、两用基本型膜厚仪
型号 Surfix B FN
仪器 1120201201 基本型,特快反应速度,分体测头.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层.

量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm.手机式外形和操作指南.

背景光照明,最小碳化钨超耐磨测头

2、两用统计型膜厚仪
型号 Surfix FN
仪器 1120201203 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80测值,可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,特小基面积(5x5mm)有红外接PC及打印机

3、铁基基本型测厚仪
型号 Surfix B F
仪器 1120201205 特快反应速度,分体测头。量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm。手机式外形和操作指南。背景光照明,声音提示,小碳化钨超耐磨测头,特小基面积(5x 5mm)

4、铁基统计型膜厚仪
型号 Surfix F
仪器 1120201207 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测铁基体上镀层和绝缘涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC与打印机

5、非铁基基本型膜厚仪
型号 Surfix B N
仪器 1120201209 碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,可测有色金属基体上的绝缘涂层以及铝氧化膜厚度, 量程:1500μ m。分辨率:0.1μ m. 背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm) ,手机式外形和操作指南

6、非铁基膜厚仪
型号 Surfix N
仪器 1120201211 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测有色金属基体上绝缘涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC及打印机



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