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本测试仪适用于各类轻触开关寿命检测，可自由调节测试行程，操作简单方便,采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程,六组同时检测,提高工作效率。
本测试仪适用于各类旋转电位器等老化寿命检测，可任意调节测试角度，操作方便简单,采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程。
本测试仪适用于各类旋转电位器等老化寿命检测，可任意调节测试角度，操作方便简单,采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程。
本测试仪适用于各类轻触开关寿命检测，可自由调节测试行程，操作简单方便,采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程。
本测试仪适用于各类旋转档位开关等老化寿命检测，可任意调节测试角度，操作方便简单,采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程。
本测试仪适用于各类旋转，打击开关寿命检测，可自由调节测试行程，操作简单方便.采用自主研发的控制器芯片检测被测试产品的试验过程。
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