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EDX3000B X荧光光谱仪

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更新时间:2023-05-11 10:26:04浏览次数:165次

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产品简介

金、银、铂、钯等成分,还可以用来分析镀层厚度

详细介绍

  

金、银、铂、钯等成分,还可以用来分析镀层厚度。

技术参数

※. 样品室尺寸:1000*1000*300MM
※. 测量时间:60-300秒
※. 工作电源:220U±5U
※. 高 压:15-50KV
※. 管 流:600μA
※. 计数率:1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析

关键词:探测器
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