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ED400型涡流测厚仪

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更新时间：2022-12-28 11:40:07浏览次数：115次

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产品简介

ED400型涡流测厚仪适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

详细介绍

ED400型涡流测厚仪适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

ED400型涡流测厚仪以良好的质量，及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可，天星测厚仪在铝型材行业的超过90%，成为该行业的产品。

特点

	量程宽 ED400型涡流测厚仪量程达到 0～500 μm。
精度高测量精度达到2%。
	分辨率高分辨率达到0.1μm。
校正简便只校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
	基体导电率影响小基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。
	稳定性提高采用*的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
探头芯寿命长采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

技术参数.jpg

	量程宽 ED400型涡流测厚仪量程达到 0～500 μm。
精度高测量精度达到2%。
	分辨率高分辨率达到0.1μm。
校正简便只校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
	基体导电率影响小基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。
	稳定性提高采用*的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
探头芯寿命长采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。