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俄歇电子能谱(AES测试)

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更新时间:2022-09-12 10:07:06浏览次数:255次

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产品简介

仪器名称:俄歇电子能谱(AES)型号:ThermoScientificEscalab250Xi检测项目:1.能分析≥20nm直径的异物成分,且异物的厚度不受限制(能达到单个原子层厚度,0.5nm)

详细介绍



仪器名称:
俄歇电子能谱(AES)
型号:
Thermo Scientific Escalab 250Xi
检测项目:
1.能分析≥20nm直径的异物成分,且异物的厚度不受限制(能达到单个原子层厚度,0.5nm)。
2.利用AES的深度溅射功能测试≥3nm膜厚厚度。
3.利用D-SIMS结合AES能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。
应用范围:
应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析,其特点在俄歇电子来极表面甚至单个原子层,仅带出表面的化学信息,具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点,广泛应用于材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。
制样要求
1.样品规格尺寸为1×1×0.5cm,当样品尺寸过大需切割取样。
2.取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置,取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装, 避免外来污染影响分析结果。
3.由于AES测试深度太浅,无法对样品喷金后再测试,所以绝缘的样品不能测试,只能测试导电性较好的样品。
4.AES元素分析范围Li-U,只能测试无机物质,不能测试有机物物质,检出限0.1%。

PS:送样请附带“委托测试单"。


测试提示:

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或记录将作为重要的仲裁依据;请加技术人员交流:

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。

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