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德国卡尔德意志PC-LEPTOSKOP2050涂层测厚仪德国卡尔德意志PC-LEPTOSKOP2050涂层测厚仪德国卡尔德意志PC-LEPTOSKOP2050涂层测厚仪应用实例为PC-leptoskop2050:笔记型电脑与个人电脑软件statwin2002
德国卡尔德意志 PC-LEPTOSKOP 2050涂层测厚仪
德国卡尔德意志 PC-LEPTOSKOP 2050涂层测厚仪
应用实例为
PC-leptoskop 2050:
笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002 ,
电脑微型探头和定位装置
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。 除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度(如钢铁上的漆层或铬层)和导电材料上的非导电层涂层的厚度(如非铁金属上的漆层) ,测量范围到1200 μ m的标准探头,我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头,双晶探头可测量厚度高达12.5mm,我们同时还提供完整的配件。 |
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订货信息 |
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探头,测量范围和订货号 |
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探头 |
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