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大昌华嘉科学仪器
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纳米粒度及zeta电位仪
公司介绍：
美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）是的激光应用技术研究和制造厂商，其*的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥，磨料，冶金，制药，石油，石化，陶瓷，等领域，并成为众多行业的质量检测和控制的分析仪器。Microtrac Inc.公司非常注重技术创新，近半个世纪以来，一直着激光粒度分析的前沿技术，可靠的产品和强大的应用支持及完善的售后服务，使得其不断超越自我，推陈出新，。
Microtrac在在线颗粒大小和形状测量方面有超过25年经验，了解过程加工环境的所有需求，在线测量的好处就是让操作者能实时的看到过程的变化，使他们立即作出反应，得到高质量的产品。
仪器简介：
纳米粒度测量——动态光背散射技术
随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研发成功，引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和*的数学处理模型，NPA150/250将分析范围延伸至0.3nm-10μm,样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“Y"型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，极大的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率。
Zeta电位测量：
美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出一代Nanotrac wave II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，Nanotrac wave II采用*的“Y"型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，*消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。
测量原理：
粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
Zeta电位测量：膜电极设计与“Y"型探头形成微电场测量电泳迁移率
分子量测量：水力直径或德拜曲线
光学系统：
3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路
软件系统：
*的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和等。
外部环境：
电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
环境要求：温度，10-35°C
国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特点：
• 采用的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
• 的“Y"型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。
• 的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
• 的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
• 的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
• 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。
• 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果
• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
纳米粒度及zeta电位仪 Nanotrac wave II
| 粒度分析范围 | 0.3nm-10µm |
| 重现性 | 误差≤1% |
| 浓度范围 | 100ppb-40%w/v |
| 检测角度 | 180° |
| 分析时间 | 30-120秒 |
| 准确性 | 全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子 |
| 测量精度 | 无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果 |
| 理论设计温度 | 0-90℃，可以进行程序升温或降温 |
| 兼容性 | 水相和有机相 |
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