行业产品

  • 行业产品

苏州星源洁净环境科技有限公司


当前位置:苏州星源洁净环境科技有限公司>>实验室仪器>>飞行时间二次离子质谱

飞行时间二次离子质谱

返回列表页
参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号

品       牌

厂商性质其他

所  在  地苏州市

联系方式:高先生查看联系方式

更新时间:2022-09-22 10:05:46浏览次数:181次

联系我时,请告知来自 智能制造网

经营模式:其他

商铺产品:126条

所在地区:江苏苏州市

联系人:高先生

产品简介

详细介绍飞行时间二次离子质谱飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术

详细介绍

详细介绍

飞行时间二次离子质谱





飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。



技术参数:
. 并行探测所有离子,包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围(实际测量中大于1000m/z 原子量单位)。
. *透过率下实现高的质量分辨率。
. 的横向和纵向空间分辨率(横向小于100纳米,纵向小于1纳米)。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点:
.  超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
·  操作简单(? day training)
· 1 分钟分析,样品处理流程 <7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
·  溅射预清洗表面
· 提供材料数据库
 


其他推荐产品更多>>

感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN

智能制造网 设计制作,未经允许翻录必究 .      Copyright(C) 2021 https://www.gkzhan.com,All rights reserved.

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,智能制造网对此不承担任何保证责任。 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~