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高分辨场发射扫描电子显微镜

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产品型号Sirion 200 (SEM)/*／ Sirion 200

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更新时间：2022-11-06 10:16:09浏览次数：95次

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束伦（上海）技术服务有限公司

经营模式：其他

商铺产品：159条

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产品简介

性能指标电镜分辨率:1.5nm@15kV

详细介绍

性能指标

电镜分辨率: 1.5nm @ 15kV；2.0nm @ 10kV；3.0nm @ 5kV
加速电压: 500V～30kV
束流大小: 20nA
电镜物镜模式: 磁浸入模式UHR、无磁场模式HR
电镜检测器: 高真空二次电子检测器(SE)、极靴内二次电子检测器(TLD)、极靴内背散射电子检测器(TLD-B)、四分固体式背散射电子探测器(BSE)、样品室红外CCD探测器
能谱分辨率: 129eV(Mn Kα) 能谱元素检测范围: B5～U92

主要应用

固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。
粉末、微粒样品形态的测定金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析复合材料界面特性的研究材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析材料及电子器件失效分析。

样品要求

仪器说明

仪器名称：高分辨场发射扫描电子显微镜硅漂移探测器能谱仪 Field-emission Scanning Electron Microscopy & Energy Dispersive Spectrometer
仪器型号：Sirion 200 (SEM)& INCA X-Act (EDS)
仪器缩写：SEM
生产厂家：美国FEI公司& 英国Oxford公司
关键词：扫描电镜 SEM 能谱仪 EDS 微观形貌表面形貌元素成分元素分布
仪器简介： Sirion 200型扫描电子显微镜具有超高分辨率，该仪器能实现对各种固态样品表面形貌的观察，获得表面形貌的二次电子像、背散射电子像。该仪器配备的x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量分析。