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苏州优仪惠测仪器有限公司
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菲希尔测厚仪台式XDV-SDD
XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能较强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm²的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外，仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立优化的激发条件。
· 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器（SDD），能高精度地测量较薄的镀层
· 耐用的设计结构，能以出色的长期稳定性用于连续测量
· 可编程XY平台和Z轴，用于自动化连续测量
· 拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便
· 测量薄镀层，如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
· 测量汽车制造业中的硬质涂层
· 光伏产业中的镀层厚度测量
· 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质（如重金属）进行鉴别
· 分析黄金和其他贵金属及其合金
· 测定功能性镀层的组分，如NiP镀层中的P含量
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