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X射线荧光光谱仪

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更新时间：2022-12-01 11:47:17浏览次数：191次

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东莞市欧若斯仪器有限公司

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产品简介

X射线荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。

详细介绍

特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性；

X射线荧光光谱仪介绍

EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

X射线荧光光谱仪性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量zui薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA