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上海标卓科学仪器有限公司


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锌层测厚仪

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更新时间:2022-12-23 10:37:42浏览次数:306次

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经营模式:其他

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联系人:王经理

产品简介

锌层测厚仪应用:测量钢、铁等磁性金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

详细介绍

一、锌层测厚仪特点
1、锌层测厚仪是用电池供电的便携式测量仪器, 采用磁感应和电涡流原理。测量方法符合标准ISO2178,ISO2360和国家标准GB4956,GB4957.它采用计算机技术,无损检测技术等多项*技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度.
2、F型探头可直接测量导磁材料( 如铁、镍) 表面上的非导磁覆盖层厚度( 如: 油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬等) 。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。
3、NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝缘覆盖层厚度, 如铝、铜、锌、无磁不锈钢等材料表面上的油漆、塑料、橡胶涂层, 也可测量铝或铝合金材料的阳极氧化层厚度。
4、具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头,不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量,而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样值。
5、测量范围宽,分辨率高。
6、自动记忆校准值,方便使用。
7、一体化结构,体积小,重量轻。
8、数字背光显示,无视差。
9、可存储99组数据通过测出平均值,zui大值和zui小值实现仪器的统计功能。
10、利用可选的RS232C软件和电缆,可与PC计算机通讯,实现数据的采集,处理,分析和打印功能。
11、本仪器设有自动关机, 实现省电功能。
二、技术参数:
显示器4位数字背光液晶
标准测试范围0-1250 um
(其他测量范围可订制)
zui小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
zui小测量面积:6mm
zui薄基底:0.3mm分辨率: 0.1μm/1μm
测量精度:±1-3%n或2.5μm
电池电压指示:低电压提示
具有自动识别被测基体的功能。
测量模式单次测量和连续测量。
具有公英制单位转换功能,实现μm/mil转换。
带有标准的RS232C接口。
电 源: 2节7号电池。
操作条件:温度0-40℃,湿度< 95%
尺 寸126x65x35 mm
重 量81 g 不包括电池

三、执行标准
1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量《磁性方法》
2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量《涡流方法》
3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

四、仪器校准

A校零

将探头压在没有涂层的基体上(如果客户没有空的基体,可以拿砂纸把基体上的涂层磨掉)再按住校零键“ZER0”1秒钟,然后放开,显示屏上显示“Zero OK”后,才能松开探头,否则校零失败。

B、 目标点校准

1、根据要测量的涂层厚度,选择厂家配送比较接近的目标膜片。
2把膜片放在没有涂层的基体上,把探头压到膜片上测量,如果测出来的值与膜片不同,可以通过“+”“—”按键来修正(修正时,探头不能再压在基体上)
注意:校零和目标点校准时尽量在用户自己的空基体上进行,如果基体上有涂层,建议用户先用砂纸磨开一定面积,作为空基体使用,再进行校零。

五、根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银和镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高.  
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。  
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合,国内目前使用zui为普遍的是第1和2两种方法。  
六、常规涂层测厚仪的原理:
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和标准中称为覆层(coating)。   覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。   覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。   随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。 
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。   

七、出厂清单
1 主机 一台
2 标准片 一套
3 铁基体 一块
4 电池 一对
5 说明书 一本
6 合格证 一份
7 清洁布 一张
8、便携盒 一只
9、校准膜片一套
(膜片的实际厚度详见包装)
可选附件:1.RS232C 通讯电缆和软件USB适配器
          2.蓝牙通讯和软件

小知识

在很多行业中,例如化工、电力、金属、电子等,为了能够更好的保护各种材质的材料不会受到损坏,都会选择喷涂或者有色金属把材料覆盖住,避免材料出现养护以及磷化的情况,因此,就有了贴层、镀层、涂层、敷层以及化学成膜这些观点,统一称为覆层。检测覆层所喷涂的厚度这是检测工业成品生产情况的关键步骤之一。覆层检测厚度的仪器能够在不损坏成品品质的情况下测量出磁性金属材料上覆盖的非磁性材料厚度和非磁性材质上覆盖的绝缘物体厚度。涂镀层测量厚度的设施拥有测量偏差小,可信赖性强、稳固定能好、操纵简便等优点,是掌控以及确保成品品质的检测设施,在生产业、加工业、化工业以及商检等被普及的使用。 
1 磁力原理测厚仪 
使用*磁铁从车头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,两者间的吸力大小和两者之间相距的距离是一定的比例,覆层的厚度就是这个距离。利用这一原理制成测厚仪,覆层和基材的导磁率差异勾搭,就能够使用测厚仪进行测量。因为很多工业成品都是使用钢以及冷热轧钢板制造,因此磁性测厚仪能够在很多领域得到广泛的使用。测量设施的根本构造是由磁钢、标尺、拉簧和自停构造组成。如果磁钢和要进行测量的物体吸附之后,其中一个弹簧会慢慢的被拉长,拉力也随之增加,如果拉力钢比两者之间的吸附力大在两个物体分开时记录下拉力情况就能够取得覆层的厚度。普遍来说,按照不一样的种类又不一样的量程和适用场所。角度大约在三百五十度的角可以使用刻度在零到一百微米;零到一百微米;零到物毫米的覆盖厚度,精度在百分之五以上,符合工业使用的标准。磁吸力测量操纵简便、坚固实用、不用电源,测量前无须校准,价格较低,在车间现场比较适合选择这种测量方式。 
2 磁感应原理测厚仪 
使用磁感应原理时,采用从测头发出的信号流经覆盖层进入铁基层,判断覆盖层的厚度,覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。因为这是电子测量设施,测量前校准简便,具有很多能力,扩大仪表标称范围的上下两极限只差的值,提升精准度,因为测试环境能够减少很多,所以比磁力式覆层检测设施使用的范围更广泛。线圈缠绕在铁心上的测头放置在被测样本上时,测量设施主动输出测试信号。zui开始的商品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到零点一微米,允许误差达百分之一,量程达十毫米。能够说,伴随着科学技术的前进,在工业以及科学探索的设施中都得到了广泛的运用。 
3 电涡流原理测厚仪 
电涡流测厚仪主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。它的工作原理是利用高频交流电在作为探头的线圈中产生一个电磁场,将探头靠近导电的金属体时,就在金属材料中形成涡流,且随与金属体的距离减小而增大,该涡流会影响探头线圈的磁通,故此反馈作用量是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值,因为该测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度,所以通常我们称该测头为非磁性测头。非磁性测头一般采用高频高导磁材料做线圈铁芯,常用铂镍合金及其它新材料制作。与磁性测量原理比较,他们的电原理基本一样,主要区别是测头不同,测试电流的频率大小不同,信号大小、标度关系不同。在的测厚仪中,通过不断改进测头结构,在配合微电脑技术,由自动识别不同测头来调用不同的控制程序,分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件,终于使两种不同类型的的测头接与同一台测厚仪上,降低了用户负担,基于同一思想,可配接达10种侧头的测厚仪极大地扩展了测厚范围(达10万倍以上),可测包括导磁材料表面上的非导磁覆层,导电材料上的非导电覆层及不导电材料上的导电层,基本上满足了工业生产多数行业的需要。 
4 影响测量精度的因素 
运用覆层检测厚度设施和运用别的设施都是一样的,不仅要了解设施的功能,还要清楚能够检测的情况。检测覆层的设施因为所测量基体的电磁性以及磁性和探头之间的距离进行检测,因此,见检测的物体其自身的物理性以及形状大小都会对电涡流产生影响,对测量结果也会产生影响,下面我们就讲述一下会对测量值的精准度产生影响的因素。 
4.1 边界间距 
当探头与被测体边界、孔眼、空腔、其它截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于涡流载体截面不够将产生测量误差。当必须测量该点的覆层厚度,必须预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才能测量。 
4.2 基体金属zui小厚度 
被测物体的基体一定要给出一个既定的厚度zui小值,能够让探头的电磁场全部包裹在被测物体的金属中,这里给出的既定厚度zui小值和被测物体的性质相关,在这个给出的厚度上开展检测,不用再修整所测量的结果。如果基体的厚度达不到标准,所检测到的数据就不是zui精准的,这种情况就需要使用同材质的物体紧贴在被检测物体上。 
4.3 表面粗糙度和表面清洁度 
在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见,不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不可靠。基体金属和覆盖层的表面粗糙度越大,影响越大。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予去除。有的仪表上下限,以剔除那些"飞点"。 
4.4 探头测量时的作用力 
探头进行检测时所使用的力应该是一成不变的,改变力应该zui小化,这样软的覆盖层才不会出现变形的情况,导致检测数据不准确。在需要时,可以在探头以及被检测物体之间夹一层具有相当厚度绝缘的硬性薄膜,在检测结果中减掉薄膜的厚度就能够得到想要的结果。 
4.5 外界恒磁场、电磁场和基体剩磁 
测量应该避免在有干扰作用的外界磁场附近开展。因为根据检测器的性能残存的剩磁可能导致或多或少的测量误差,但是如果是结构钢,深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。 
4.6 覆层材料中的铁磁成份和导电成份 
如果覆层使用的材料是某一种颜料的情况下,在覆层材料中含有一些铁磁元素,这会对检测的结果造成不良干扰。所以,用于校对覆层中和被检测物体覆层一项的电磁性质,经过校对后就能够正常的进行检测。运用的方式可以是把一样材质的覆层材料涂抹在铜或者铝的试样品种,使用电涡流检测方式进行检测取得对比规范试样。


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