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德国菲希尔FISCHER XUV X 射线荧光镀层测厚仪

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更新时间：2023-02-27 08:11:50浏览次数：237次

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简介：XUV 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。

详细介绍

详细说明

XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

特性：

● 检出限低、重复精度高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用

● 配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现精确测量，尤其是对轻元素的测试

● 通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试

● 准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件

应用：

涂层厚度测量

● 原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级

● 铝镀层和硅镀层

材料分析

● 测定宝石的真伪与原产地

● 常规材料分析和取证

● 高分辨率痕量分析

关键词：探测器滤波器

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