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德国菲希尔FISCHER XDL \ XDLM \ XDAL X 射线荧光镀层测厚仪

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更新时间：2023-02-27 08:15:15浏览次数：301次

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产品简介

简介：德国菲希尔凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

详细介绍

详细说明

凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

特性：

● X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

● 由于测量距离可以调节（可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

● 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

● 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：

镀层厚度测量

● 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

● 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

● 复杂几何形状产品上的镀层

● 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

● 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

● 电镀槽液分析

● 电子和半导体行业中的功能性镀层分析

关键词：测量仪器滤波器探测器

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