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深圳市鑫欧野仪器有限公司
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MiniTest测头F05SIDSP/涂层测厚仪探头用于测量以下覆层（覆层包括涂层
MiniTest测头F05 SIDSP/ 涂层测厚仪探头
用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：
• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层
供MiniTest 1100/2100/3100/4100 选配测头
| 18 | 测头F05 | (铁基体涂镀层 *小测量面积直径3mm 0-500um,低端分辨率0.1um) | |
| 19 | 测头F3 | (铁基体涂镀层 0-3000um，低端分辨率0.2um) | |
| 20 | 测头F1.6 | (铁基体涂镀层 0-1600um，低端分辨率0.1um) | |
| 21 | 测头F1.6P | (铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um，低端分辨率0.1um) | |
| 22 | 测头F1.6/90 | (铁基体涂镀层测管内壁 0-1600um，低端分辨率0.1um) | |
| 23 | 测头F10 | (铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um | |
| 24 | F20 | 铁基体涂镀层 ,0-20mm,分辨率10um) | |
| 25 | 测头F50 | (铁基体涂镀层 0-50mm，分辨率，10um) | |
| 26 | 测头FN1.6 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um) | |
| 27 | 测头FN1.6P | ||
| 28 | 测头FN1.6/90 | (铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um) | |
| 29 | 测头N02 | (铜铝基体涂层 0-200um，分辨率，0.1um) | |
| 30 | 测头N08 Cr | (铜基体上镀铬层 0-80um,分辨率0.1um) | |
| 31 | 测头N02 Tu | (铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um) | |
| 32 | 用于测头N02 Tu的专用支架 | ||
| 33 | 测头N1.6 | (铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um) | |
| 34 | 测头N1.6/90 | (铜铝基体涂层测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um) | |
| 35 | 测头N10/2,N20 | (铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um) | |
| 36 | 测头N100 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um) | |
| 37 | 测头CN 02 | (敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um) | |
| 38 | 测头F 2 （ 250 °C） | 铁基体上涂层，250度高温探头，量程0-2mm | |
| 39 | 测头F 2 （ 350 °C） | 铁基体上涂层，350度高温探头，量程0-2mm | |
| 40 | F 2/90 | 铁基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm | |
| 41 | N 2/90 | 铁基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm | |
| 42 | FN 2/90 | 铁及铜铝基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm | |
| 43 | 精密探头支架 | Probe guide, precision | |
| ● | 44 | RS232接口电缆for 2100/4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
| ● | 45 | MSOFT41数据分析软件for 4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
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