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XUV/VUV光谱仪

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更新时间：2022-10-29 10:11:33浏览次数：237次

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产品简介

XUV/VUV光谱仪

详细介绍

XUV/VUV光谱仪

H+P公司的XUV/VUV光谱仪采用平面掠入射具有像差校正的特点，三块光栅波长范围分别为1-20nm,5-80nm和40-200nm,总波长覆盖范围为1nm-200nm.光谱仪采用无狭缝入射能够提高光谱仪灵敏度。模块化设计能够满足不同实验的结构配置需求。它集成了狭缝固定架、滤波插入装置以及光栅电动定位装置。

参数规格：

波长（nm）	5～20	10～60	25～80
工作模式	狭缝	无狭缝	无狭缝
光源距离(m)		0.4～0.6	0.5～1.5
平场尺寸（mm）	25.4	50	50
色散（nm/mm）	0.5～0.7	0.7～1.1	0.9～1.3
分辨率（nm）	≈0.06	≈0.09	0.11